恒溫恒濕試驗機相關(guān)資料下載
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| 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗-溫度變化 | 619KB | 2011-08-13 | ||
| 簡述： |
溫度變化試驗適用于確定一次或連續(xù)多次溫度變化對試驗樣品的影響。本試驗不能用來考核僅由高溫或低溫所引起的影響，對這種影響，應使用高溫或低溫試驗方法。影響溫度變化試驗的主要參數(shù)是：
1、溫度變化范圍的高溫或低溫溫度值；
2、試驗樣品在高溫和低溫下的保持時間；
3、低溫到高溫或高溫到低溫之間溫度變化的速率；
4、條件試驗循環(huán)數(shù)；
5、試驗樣品吸收或放出之總數(shù)量；
試驗目的：確定元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品經(jīng)受環(huán)境溫度迅速變化的能力，所需的暴露時間，取決于試驗樣品的性質(zhì)。 | |||
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| 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-恒定濕熱試驗方法 | 313KB | 2011-08-13 | ||
| 簡述： |
本標準等效采用IEC 68-2-3《基本環(huán)境試驗 規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱》(1969年第三版）及（1984年號修正件。
1.主題內(nèi)容與適用范圍
本標準規(guī)定了恒定濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱（室）的基本要求等。
本標準適用于確定電工電子產(chǎn)品、元件、材料等在恒定濕熱條件下使用和貯存的適應性。
2.引用標準
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則
GB 2422 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 名詞術(shù)語
GB 2424.2 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導則 | |||
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| 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-交變濕熱試驗方法 | 380KB | 2011-08-13 | ||
| 簡述： |
本標準等效采用IEC 68-2-30《基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db及導則：交變濕熱（12+12h循環(huán)）》（1980年第二版）及1985年第1號修正件。
1 主題內(nèi)容與適用范圍：
本標準規(guī)定了交變濕熱試驗的試驗程序、嚴酷等級和對試驗箱（室）的基本要求等。本標準適用了確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化、產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用和貯存的適應性。
2 引用標準：
GB 2421 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 總則
GB 2422 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 名詞術(shù)語
GB 2424.2 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 濕熱試驗導則 | |||
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| 恒定濕熱-主要用于元件的加速試驗 | 365KB | 2011-08-13 | ||
| 簡述： |
1 范圍：
本標準規(guī)定了一種以加速方式評價小型電工電子產(chǎn)品，主要是非氣密性元件耐濕熱劣化效應的試驗方法。本試驗不適用于評價諸如腐蝕和變形等外部效應。
2 概述：
在本試驗中，樣品在較長的時間內(nèi)承受很高的未飽和濕熱蒸汽壓力的作用，通常施加偏壓。本試驗在相對濕度為85%、溫度為85°C的條件下提供了若干優(yōu)先的試驗持續(xù)時間，就塑封元件而言，劣化作用是因塑料吸收水汽和水汽沿引出端滲入而引起的。 | |||
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| 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-濕熱試驗設(shè)備檢定方法 | 1.28MB | 2011-08-13 | ||
| 簡述： |
1 范圍：
本標準規(guī)定了濕熱試驗設(shè)備的檢定項目、檢定儀器、測量點的位置與數(shù)量、檢定步驟和檢定數(shù)據(jù)的處理與檢定結(jié)果。
本標準適用于對GB/T 2423.3《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》、GB/T2423.4《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 Db：交變濕熱試驗方法》、GB 2423.9《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 Cb:設(shè)備用恒定濕熱試驗方法》和GB 2423.16《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗J：長霉試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。
本標準也適用于類似設(shè)備的周期檢定。
檢定項目包括：1、溫度偏差2、相對濕度偏差3、溫度波動度4、升降溫特性5、風速 | |||
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| 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗-溫度試驗設(shè)備標準 | 1.05MB | 2011-08-13 | ||
| 簡述： |
1 范圍
1.1 本標準規(guī)定了溫度（含低溫、高溫和溫度變化）試驗設(shè)備在進行周期檢定時的檢定項目、檢定用主要儀器及要求、檢定條件、測量點數(shù)量及布放位置、檢定步驟、數(shù)據(jù)處理及檢定結(jié)果等內(nèi)容。
1.2 本標準適用于對GB 2423.1-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法》、GB 2423.2-89《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法》和GB 2423-22-87《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N：溫度變化試驗方法》所用試驗設(shè)備的周期檢定。本標準也適用于類似試驗設(shè)備的周期檢定。
本標準規(guī)定的檢定項目如下：1、溫度偏差2、溫度平均變化速率（適用于有溫度變化速率要求的試驗設(shè)備）3、風速4、相對濕度（適用于高溫試驗設(shè)備）5、溫度恢復時間（適用于有規(guī)定轉(zhuǎn)換時間的快速溫度變化試驗設(shè)備） | |||
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