溫度試驗

溫度試驗
我國地域廣大，決定了我們的電子元器件被使用的地域范圍很廣。寬廣的地域溫度及溫度變化的差別大，因此必須進行電子元器件的溫度試驗。根據溫度環(huán)境的不同，溫度試驗包括高溫試驗、低溫試驗、熱循環(huán)試驗、熱沖擊試驗和熱性能試驗等五種。
1.低溫試驗
根據氣象記載，我國極端的氣溫或地溫低于一55°C的幾乎沒有。故無論使用、運輸或儲存，一55t：已能滿足要求了。當然還需要考慮到一些特殊環(huán)境及我國的電子產品不局限于在國內陸地上使用。

低溫試驗的原理及程序如下。
試驗目的
低溫試驗的目的是考核低溫對電子元器件的影響，確定電子元器件在低溫條件下工作和儲存的適應性。例如，半導體器件在低溫條件下能否正常工作,在低溫作用后是否有機械損傷和電參數(shù)變化的情況,以及在低溫儲存的條件下,保持性能的能力等。
試驗原理
低溫下會使電子元器件的電參數(shù)發(fā)生變化、材料變脆及零件材料冷縮產生應力等。使電子元器件處于低溫環(huán)境下一定時間,考核電子元器件的電參數(shù)是否發(fā)生變化、材料是否變脆、零件材料冷縮產生應力有多大等，從而確定電子元器件的抗低溫能力。
試驗設備
試驗設備主要有低溫箱(低溫室)和溫度計。低溫箱或低溫室提供一定的低溫場所 (環(huán)境）;溫度計用于測量和監(jiān)控試驗溫度。試驗設備還要有測量電性能參數(shù)的電測量系
(4)試驗程序和方法
①初始測量：將試驗樣品放置在正常大氣條件下，使之達到溫度穩(wěn)定。然后按有關標準規(guī)定對試樣進行電性能、機械性能及外觀檢查。
②試驗：按有關標準規(guī)定,選定試驗的低溫等級，確定低溫溫度及低溫作用時間，采用下述方法之一進行試驗。
③帶溫度沖擊的試驗：先將低溫箱溫度調到規(guī)定值，再將試驗樣品放入箱內；試驗時間從箱溫恢復到規(guī)定值時算起。
④不帶溫度沖擊的試驗：先將試樣放人箱內，再把箱溫調到規(guī)定值;試驗時間從箱溫達到規(guī)定值時算起。
⑤試驗過程中是否加負荷：按有關標準規(guī)定進行。
⑥中間測量：當試樣處于低溫時，按有關標準規(guī)定對其試樣進行電性能、機械性能及外觀檢查。
0恢復：試驗結束后，將試樣從箱內取出。在正常大氣條件下恢復到冰融解后，抹去或甩掉試樣上的水滴，然后再恢復12小時。
⑧最后測量：按有關標準規(guī)定，對試樣進行電性能、機械性能及外觀檢查。
例如，半導體集成電路總技術條件中規(guī)定，將一、二類電路分別放在低溫箱中,一類產品的試驗溫度為(一55士3)t：,二類產品的試驗溫度為（一40士3)C,恒溫時間為30分鐘。在低溫下測量電參數(shù)，應符合產品標準的規(guī)定。
應注意的是在低溫試驗中，常因夾具結冰引起器件外引線與夾具接觸不良，或結冰漏電。遇到這種情況，應該反復檢查夾具，使接觸良好,消除結冰漏電之后,方能測量電參數(shù)，否則測量結果不準確。
2.髙溫試驗
高溫試驗簡便、經濟，同時對穩(wěn)定器件的電性能有良好的影響。它是有效的篩選手段之一，所以國內外都樂于采用。但是,選擇怎樣的試驗條件才能達到預期的效果，這是需要好好研究的。

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