試驗(yàn)程序及方法
通常,地面設(shè)備用的電子元器件進(jìn)行較低等級(jí)的試驗(yàn);航空電子設(shè)備用的元器件進(jìn)行 較高等級(jí)的試驗(yàn);而特殊要求的產(chǎn)品則進(jìn)行更高等級(jí)的試驗(yàn)。有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：
①低溫按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在低溫等級(jí)表3. 2. 2中選定一個(gè)溫度。
②髙溫按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定在高溫等級(jí)表3. 2. 4中選定一個(gè)溫度。
③高溫、低溫下保持時(shí)間分別為30分鐘。
④轉(zhuǎn)換時(shí)間為15分鐘。
⑤循環(huán)次數(shù)按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定3次或5次。
一次循環(huán)的過(guò)程為圖3. 2. 2所示。圖中：TA為低溫 值?山為高、低溫下保持時(shí)間；Tb為高溫值仏為轉(zhuǎn)換時(shí) 間;T。為室溫值;A為次循環(huán)的起點(diǎn)。
有時(shí)，將轉(zhuǎn)換時(shí)間G小于3分鐘的溫度循環(huán)試驗(yàn)稱(chēng)為 溫度沖擊試驗(yàn)。
半導(dǎo)體三級(jí)管的溫度循環(huán)試驗(yàn)是將非工作狀態(tài)的半 導(dǎo)體三級(jí)管先后置于低溫和高溫箱中,共進(jìn)行5次循環(huán)，