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來源：正航儀器 瀏覽： 發(fā)布日期：2013-09-12 【大 中 小】

試驗(yàn)程序 該試驗(yàn)的試驗(yàn)程序?yàn)椋?br /> ①按試驗(yàn)任務(wù)書的要求，選擇能滿足試驗(yàn)振動(dòng)條件的振動(dòng)臺(tái)。.
②安裝固定試驗(yàn)樣品,相應(yīng)的電路系統(tǒng)及電信號測量系統(tǒng)也應(yīng)固定好。
③安裝好監(jiān)控傳感器系統(tǒng)。
④根據(jù)試驗(yàn)要求，使振動(dòng)臺(tái)產(chǎn)生給定規(guī)定的振動(dòng)，試驗(yàn)中要一直測量并記錄電信號 測量系統(tǒng)的有關(guān)電信號。試驗(yàn)中一直要監(jiān)控振動(dòng)臺(tái)的振動(dòng)水平,使其始終滿足該試驗(yàn)的 振動(dòng)要求。
⑤將測量并記錄的試驗(yàn)樣品的電信號進(jìn)行分析，得出試驗(yàn)樣品的電信號是否混雜有
噪聲信號。

沖擊試驗(yàn)
沖擊試驗(yàn)也稱為機(jī)械沖擊試驗(yàn)。它是用來確定電子元器件受到機(jī)械沖擊時(shí)的適應(yīng)性 或評定其結(jié)構(gòu)的牢靠性。
在沖擊試驗(yàn)中沖擊力的大小以沖擊加速度表示，它也以重力加速度S為單位（1容= 9.8m/s2)。沖擊加速度的大小反映了沖擊力的大小。沖擊時(shí)間越短，沖擊加速度越大。 在相同波形和持續(xù)時(shí)間的情況下,加速度越大,對產(chǎn)品的影響越大。而波形不同，對應(yīng)著 不同的頻譜,不同頻譜將給產(chǎn)品造成不同的影響。持續(xù)時(shí)間描述了作用時(shí)間的長短，在同 一條件下，持續(xù)時(shí)間越長，給產(chǎn)品帶來的影響越大。
為了檢驗(yàn)電子元器件承受沖擊加速度的能力，有必要在實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行該項(xiàng)模擬試驗(yàn)。 沖擊試驗(yàn)設(shè)備應(yīng)能按規(guī)定對電子元器件施加所要求的沖擊脈沖(包括譜包絡(luò)、沖擊波形、 沖量、沖擊作用時(shí)間和沖擊峰值等），并用截止頻率為沖擊基頻五倍以上的傳感器來測量 脈沖。半導(dǎo)體器件的沖擊試驗(yàn)是將非工作狀態(tài)的被試樣品緊固在沖擊臺(tái)的專用夾具上進(jìn) 行的。其沖擊頻率為20?100次/分，沖擊加速度為（100士 10)旦，在兩個(gè)或3個(gè)方向上各 進(jìn)行1000次。
對微電路試驗(yàn)時(shí)微電路的殼體應(yīng)剛性固定在試驗(yàn)臺(tái)基上，外引線要施加保護(hù)。對微 電路的芯片脫出方向、壓緊方向和與該方向垂直的方向各施加五次半正弦波的機(jī)械沖擊 脈沖。沖擊脈沖的峰值加速度取值范圍一般取為4900?294000m/s2(500?30000g),脈 沖持續(xù)時(shí)間為0.1?1. 0ms，允許失真不大于峰值加速度的20%。
試驗(yàn)?zāi)康?br /> 機(jī)械沖擊試驗(yàn)的目的是確定電子元器件受到機(jī)械沖擊時(shí)的適應(yīng)性或評定其結(jié)構(gòu)的牢 靠性。
試驗(yàn)原理
沖擊是外界條件的突然改變引起結(jié)構(gòu)狀態(tài)的突然改變，也就是說，短時(shí)間內(nèi)極大的沖 擊力(極大的沖量)作用在試驗(yàn)樣品上，而沖量的變化等于動(dòng)量的變化。所以，試驗(yàn)樣品在 短時(shí)間內(nèi)動(dòng)量發(fā)生極大的變化，從而引起試驗(yàn)樣品產(chǎn)生極大的瞬態(tài)振動(dòng),產(chǎn)生極大的位 移，在試驗(yàn)樣品內(nèi)產(chǎn)生極大的應(yīng)力和應(yīng)變，抗沖擊能力弱的試驗(yàn)樣品就會(huì)因沖擊而損壞或 性能降低。

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