試驗程序 該試驗的試驗程序為
試驗程序 該試驗的試驗程序為：①按試驗任務書的要求，選擇能滿足試驗振動條件的振動臺。.
②安裝固定試驗樣品,相應的電路系統及電信號測量系統也應固定好。
③安裝好監控傳感器系統。
④根據試驗要求，使振動臺產生給定規定的振動，試驗中要一直測量并記錄電信號 測量系統的有關電信號。試驗中一直要監控振動臺的振動水平,使其始終滿足該試驗的 振動要求。
⑤將測量并記錄的試驗樣品的電信號進行分析，得出試驗樣品的電信號是否混雜有
噪聲信號。
沖擊試驗
沖擊試驗也稱為機械沖擊試驗。它是用來確定電子元器件受到機械沖擊時的適應性 或評定其結構的牢靠性。
在沖擊試驗中沖擊力的大小以沖擊加速度表示，它也以重力加速度S為單位（1容= 9.8m/s2)。沖擊加速度的大小反映了沖擊力的大小。沖擊時間越短，沖擊加速度越大。 在相同波形和持續時間的情況下,加速度越大,對產品的影響越大。而波形不同，對應著 不同的頻譜,不同頻譜將給產品造成不同的影響。持續時間描述了作用時間的長短，在同 一條件下，持續時間越長，給產品帶來的影響越大。
為了檢驗電子元器件承受沖擊加速度的能力，有必要在實驗室進行該項模擬試驗。 沖擊試驗設備應能按規定對電子元器件施加所要求的沖擊脈沖(包括譜包絡、沖擊波形、 沖量、沖擊作用時間和沖擊峰值等），并用截止頻率為沖擊基頻五倍以上的傳感器來測量 脈沖。半導體器件的沖擊試驗是將非工作狀態的被試樣品緊固在沖擊臺的專用夾具上進 行的。其沖擊頻率為20?100次/分，沖擊加速度為（100士 10)旦，在兩個或3個方向上各 進行1000次。
對微電路試驗時微電路的殼體應剛性固定在試驗臺基上，外引線要施加保護。對微 電路的芯片脫出方向、壓緊方向和與該方向垂直的方向各施加五次半正弦波的機械沖擊 脈沖。沖擊脈沖的峰值加速度取值范圍一般取為4900?294000m/s2(500?30000g),脈 沖持續時間為0.1?1. 0ms，允許失真不大于峰值加速度的20%。
試驗目的
機械沖擊試驗的目的是確定電子元器件受到機械沖擊時的適應性或評定其結構的牢 靠性。
試驗原理
沖擊是外界條件的突然改變引起結構狀態的突然改變，也就是說，短時間內極大的沖 擊力(極大的沖量)作用在試驗樣品上，而沖量的變化等于動量的變化。所以，試驗樣品在 短時間內動量發生極大的變化，從而引起試驗樣品產生極大的瞬態振動,產生極大的位 移，在試驗樣品內產生極大的應力和應變，抗沖擊能力弱的試驗樣品就會因沖擊而損壞或 性能降低。
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